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Sistemi biometrici di sicurezza potenziati

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La Redazione

I software di sicurezza di riconoscimento facciale, vocale e digitale, si sono diffusi su vari dispositivi anche di uso ormai quotidiano, come smartphone e tablet. Ma i sistemi biometrici, tra le soluzioni più efficienti in tema di sicurezza, continuano a mostrare una serie di vulnerabilità a livello di sensoristica. Tabula Rasa, consorzio di 12 organizzazioni da 7 Paesi che hanno collaborato per un periodo di tre anni, ha permesso l’individuazione del maggior numero possibile di queste vulnerabilità, lo sviluppo di contromisure con la realizzazione di una nuova generazione di sistemi biometrici più sicuri. I Programme Nanostrain, che ha riunito istituzioni pubbliche europee con anche il supporto di leader dell’industria, tra cui IBM. Una particolare attenzione sarà rivolta ai materiali piezoelettrici, quelli cioè che modificano la loro forma in risposta all’applicazioni di valori di tensioni diverse, per arrivare al Piezoelectric-Effect-Transistor (PET), nuovo switch digitale che si ritiene possa avere il potenziale per garantire più velocità, ridotte dimensioni dei microchip, e bassi consumi. Il progetto svilupperà inizialmente nuovi tool per la “nano-strain characterisation” in condizioni significative di elevati stress e campi magnetici. I risultati  saranno poi resi disponibili a produttori e progettisti allo scopo di incoraggiare l’innovazione della microelettronica, da tempo stagnante. Infatti, è dal 2003 che la velocità di clock dei computer è rimasta sostanzialmente “congelata”, e questo ha limitato non solo l’innovazione verso una nuova elettronica, ma anche gli sforzi che a livello glabale si stanno facendo per migliorare l’efficienza energetica e ridurre i consumi di energia nel settore elettronico. Secondo alcune prime stime, i transistor piezoelettrici potrebbero operare con una tensione pari a un decimo di quella necessaria agli attuali CMOS e con consumi di 100 volte inferiori.

Sistemi biometrici di sicurezza potenziati - Ultima modifica: 2013-12-18T20:00:00+01:00 da La Redazione